仪器介绍

奥林巴斯BX53M是一款高端正置式金相与荧光显微镜，集反射光明暗场成像与多模式观察功能于一体。其采用模块化设计，支持灵活扩展，满足科研与工业检测的多样化需求。

性能指标

• 光学系统：无限远校正光学系统，配备平场半复消色差明场物镜

• 放大倍数：50×、100×、500×、1000×

• 观察模式：

• 明视场：高对比度表面形貌分析

• 暗场：微弱反射信号检测

• 偏振光：晶体结构及矿物薄片分析

• 微分干涉（DIC）：纳米级表面形貌观测

• 荧光成像：支持紫外、B激发、G激发波段

典型应用

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• 材料科学：金相组织分析、涂层测量，薄膜偏光特性与晶体结构分析

• 电子工业：晶圆缺陷检测、形貌观察

• 生物医学：荧光标记细胞/组织切片成像

样品要求

• 金相样品：需抛光至镜面，无划痕或污染

• 荧光样品：需明确激发/发射波长

• 尺寸限制：最大载物尺寸76mm×52mm

设备负责人：王国华 18818218860